DLSの製品比較

NANOTRAC WAVE IIは、粒子径はもちろんゼータ電位、濃度、分子量の情報が得られる柔軟性の高い装置。粒子径の測定原理として採用している周波数解析法は周波数パワースペクトルを利用して粒子径分布を実測することが可能。実際のサンプルの状態と出力される粒度分布との間に大きなリニアリティを有するのが大きな特長です。

直接プローブ方式により、幅広い濃度範囲での測定が可能です。他社で採用されている光子相関法（PCS）で一般的に用いられるホモダイン法に比べて「高いSN比」で検出が可能なヘテロダイン法を採用しており、非常に微弱な散乱光（シングルナノ）の測定が可能です。

独自のプローブ技術により、幅広い測定セルからニーズを満たすものを選択可能。再利用可能なセルを採用しており、標準サイズ～小さいサイズのフッ素樹脂製セルをはじめ、SUSセル、ゼータ用セルなどサンプルに応じて豊富なラインアップ。ゼータ電位測定用の電極を備えたゼータセルも、再利用が可能です。

nanoSAQLA は、オートサンプラーなしで最大5検体を同時に測定できます。この時に各検体の条件が同じである必要はありません。また、同じ種類の複数のサンプルを同じ条件で測定する「抜取り検査」にも適しています。

幅広い濃度のサンプルも適切な測定位置を自動で調整できるうえ、約1分の高速測定が可能。さらに分かりやすいユーザーインターフェースを採用しており、複雑な操作は必要ありません。1クリックで測定できます。

オートサンプラAS50を使えば、最大50検体の連続測定が可能となります。測定中でもサンプルが追加できるほか、50検体を一括で入れ替えることも可能。サンプル容量は従来モデルよりも少なく、コスト削減にも寄与します。

ラボ用システム「ゼータサイザーアドバンスシリーズ」は、使いやすさを重視した粒子径分布測定装置です。初心者でも操作しやすいソフトウエア、洗浄の手間を削減するディスポーザブルセル、自動滴定装置MPT-3などを搭載しています。

ゼータサイザーアドバンスシリーズでは、データの積算回数及び選択基準を見直した新たなアルゴリズム「Adaptive correlation」を搭載。従来の機器よりも測定時間が短くなり、粗大粒子やコンタミネーションによる影響を避けることで安定したデータの取得が可能です。

特許技術「NIBSⓇ（非接触後方散乱技術）」を搭載することで、ppmレベルから最大40wt％までの測定が可能。適した光学的条件は、自動で設定されます。希釈したくないサンプルの測定に適しているほか、誰でも適切な条件で測定できることも大きな特徴です。

ELSZneoは、希薄溶液から濃厚溶液まで対応可能な装置です。ゼータ電位は0.001～40％、標準粒子における粒子径は0.00001～10％（タウロコール酸：～40％）まで対応します。サンプルの希釈を必要としない粒子の評価が可能です。

多角度測定は、粒子径分布測定の分離能を上げるために新しく採用された機能です。前方、側方、後方の3角度で散乱光を測定することで、高い分解能を発揮します。これにより、高精度での粒子径分布測定が可能です。

ELSZneoでは、ゼータ電位平板セルユニットがリニューアル。新しく開発された「高塩濃度対応コーティング」により、生理食塩水など高塩濃度下での測定が可能となり生体適合材料の評価が可能です。ねじを使用しない設計により、取扱いが容易です。

粒子径のほかゼータ電位と分子量も同時に測定できるため、粒子の包括的な評価が可能です。ゲル解析ユニットを用いれば、ゲルが持つネットワーク構造の網目サイズの分布を簡単に測定。微小容量電気泳動セルにより、わずか100μLサンプリングでのゼータ電位測定も可能です。

デュアル光学系とハイパワーレーザを採用することで、従来のモデルと比較して約15倍の感度で測定を実現しました。散乱光の強度が弱い粒子やppmオーダの希薄なサンプルも高い精度で測定が可能です。

数十％レベルの高濃度の試料をそのままの状態でサンプリング・測定できることも、nanoPartica SZ-100V2の特徴の一つです。希釈せずに測定を行うことで粒子を安定した状態に保てるうえ、評価する製品の品質管理に重要な役割を果たします。