電子部品
目次
電子部品と粒子径分布測定
電子部品における粒子径分布測定は、材料の品質管理や性能評価において重要です。 近年、電子部品や電子材料はより薄く、より短くなっており、その材料もまた微細な粒子が使用されています。
当然ながら、μmオーダーの電子部品に組み込まれる材料粒子は、厳密にコントロールされた粒子径分布を持たなければなりません。つまり、電子部品における粒子径分布測定には高い精度が求められるため、測定する装置もそれに見合った性能を持つものが必要となります。
粒子径分布測定の対象となる物質
電子部品における粒子径分布測定の対象となる物質、及び測定を行う目的についてご紹介します。
セラミックコンデンサーの粒度分布測定
誘電体
- 物質：チタン酸バリウム
- 達成性能：誘電性・微細化・薄膜シート
内部電極
- 物質：ニッケル
- 達成性能：微細化・ペースト塗布
圧電セラミックスの粒度分布測定
セラミック発振子
- 物質：チタン酸ジルコン酸鉛（PZT）
- 達成性能：圧電性
研磨剤の粒度分布測定
CMPスラリー
- 物質：酸化セリウム・シリカ ・アルミナ・ダイヤモンド
- 達成性能：研磨性
液晶の粒度分布測定
カラーフィルター
- 物質：顔料（ブラック・マゼンダ・シアン・イエロー）
- 達成性能：色味
スペーサー
- 物質：球形シリカ
- 達成性能：シャープな分布
インクジェットプリンターの粒度分布測定
インク
- 物質：顔料
- 達成性能：色味性
